Mohamad Fadzli Ali. Study of the thickness of the silicon dioxide on wafer using dry and wet oxidation method.
Chicago-referens (17:e uppl.)Mohamad Fadzli Ali. Study of the Thickness of the Silicon Dioxide on Wafer Using Dry and Wet Oxidation Method.
MLA-referens (8:e uppl.)Mohamad Fadzli Ali. Study of the Thickness of the Silicon Dioxide on Wafer Using Dry and Wet Oxidation Method.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.