Study on diffusivity of gallium dopant in silicon using spin on dopant (SOD) technique

In this final year project the diffusivity of gallium using spin on dopant technique is studied. The study includes mathematical calculation, computer simulation, fabrication and characterization of the diffusivity criteria such as surface concentration, dopant profiling and resistivity.

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Mohd Rosydi Zakaria (Автор)
Формат: Електронний ресурс Програмне забезпечення База даних
Мова:English
Предмети:
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!