Study on diffusivity of gallium dopant in silicon using spin on dopant (SOD) technique
In this final year project the diffusivity of gallium using spin on dopant technique is studied. The study includes mathematical calculation, computer simulation, fabrication and characterization of the diffusivity criteria such as surface concentration, dopant profiling and resistivity.
Enregistré dans:
Auteur principal: | |
---|---|
Format: | Électronique Logiciel Base de données |
Langue: | English |
Sujets: | |
Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Opération de maintenance en cours
Notre système de gestion de bibliothèque est en cours de maintenance.
Les réservations et la disponibilité des documents sont momentanément indisponibles. Veuillez nous excuser pour la gêne occasionnée et nous contacter pour toute assistance :