Study of deposition time influence the conical structure during electron beam induced deposition (EBID)

This final year project is about studying parameter (deposition time) influence during electron beam induced deposition (EBID) in scanning electron microscopy (SEM). EBID is a versatile micro and nanofabrication technique based on electron-induced dissociation of carrying gas molecules adsorbed on a...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Mohamad Shahrizal Md Ilias (Автор)
Формат: Електронний ресурс Програмне забезпечення База даних
Мова:English
Предмети:
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!