Study of deposition time influence the conical structure during electron beam induced deposition (EBID)

This final year project is about studying parameter (deposition time) influence during electron beam induced deposition (EBID) in scanning electron microscopy (SEM). EBID is a versatile micro and nanofabrication technique based on electron-induced dissociation of carrying gas molecules adsorbed on a...

Descrición completa

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Mohamad Shahrizal Md Ilias (Author)
Formato: Electrónico Software Base de Datos
Idioma:English
Subjects:
Tags: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!

Sistema en mantemento

O noso Sistema de Biblioteca atópase en mantemento

Neste momento non hai información de existencias e dispoñibilidade de copias. Por favor acepte as nosas desculpas polos inconvenientes causados, contacte connosco para unha maior información

david@pintaran.my