Analysis of square shaped microstructure based electron bean induced deposition
The scope of this final year project is to analyze the smoothness of the surface and the growth rate of the structure influenced by the deposition times during EBID process. The deposited area will be analyzed using AFM to investigate which time is suitable as a parameter during the EBID process to...
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Формат: | Електронний ресурс Програмне забезпечення База даних |
| Мова: | English |
| Предмети: | |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Технічні роботи в бібліотечній системі
Наразі у нашій бібліотечній системі ведуться технічні роботи.
Замовлення та інформація про доступність примірників наразі недоступна. Приносимо наші вибачення. Зверніться до Бібліотеки за допомогою: