High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Lee, Mike Tien - Chien (مؤلف)
التنسيق: كتاب
اللغة:English
منشور في: Boston Artech House c1997
سلاسل:The Artech House solid-state technology library
الموضوعات:
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction > Data processing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing > Data processing.
Computer-aided design.
Digital integrated circuits > Testing > Data processing.
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
الوصف
وصف مادي:xi, 220 pages: illustrations; 24 cm.
بيبلوغرافيا:Includes bibliographical references (p. 199-214) and index.
ردمك:0890069077

مواد مشابهة