High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Lee, Mike Tien - Chien (Yazar)
Materyal Türü: Kitap
Dil:English
Baskı/Yayın Bilgisi: Boston Artech House c1997
Seri Bilgileri:The Artech House solid-state technology library
Konular:
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction > Data processing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing > Data processing.
Computer-aided design.
Digital integrated circuits > Testing > Data processing.
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!

Sistem Bakımda

Kütüphane sistemimiz bakımda.

Kopya kayıtları ve kayıların durum bilgileri şu anda erişilebilir değil. Bunun için özür dileriz, daha fazla yardım için bizimle irtibata geçebilirsiniz:

david@pintaran.my

Benzer Materyaller