High-level test synthesis of digital VLSI circuits /
Uloženo v:
Hlavní autor: | Lee, Mike Tien - Chien (Autor) |
---|---|
Médium: | Kniha |
Jazyk: | English |
Vydáno: |
Boston
Artech House
c1997
|
Edice: | The Artech House solid-state technology library
|
Témata: | |
Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky
-
High-Level synthesis of digital VLSI circuits /
Autor: Lee, Mike Tien-Chien
Vydáno: (1997) -
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Vydáno: (2006) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Autor: Hurst, Stanley L.
Vydáno: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
Autor: Hurst, Stanley L. -
VLSI test principles and architectures design for testability
Vydáno: (2006)