High-level test synthesis of digital VLSI circuits /
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | Lee, Mike Tien - Chien (Հեղինակ) |
---|---|
Ձևաչափ: | Գիրք |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
Boston
Artech House
c1997
|
Շարք: | The Artech House solid-state technology library
|
Խորագրեր: | |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
-
High-Level synthesis of digital VLSI circuits /
: Lee, Mike Tien-Chien
Հրապարակվել է: (1997) -
VLSI test principles and architectures : design for testability /
Հրապարակվել է: (2006) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
: Hurst, Stanley L.
Հրապարակվել է: (1998) -
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques /
: Hurst, Stanley L. -
VLSI test principles and architectures design for testability
Հրապարակվել է: (2006)