High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

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Détails bibliographiques
Auteur principal: Lee, Mike Tien - Chien (Auteur)
Format: Livre
Langue:English
Publié: Boston Artech House c1997
Collection:The Artech House solid-state technology library
Sujets:
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction > Data processing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing > Data processing.
Computer-aided design.
Digital integrated circuits > Testing > Data processing.
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