High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Lee, Mike Tien - Chien (Հեղինակ)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Boston Artech House c1997
Շարք:The Artech House solid-state technology library
Խորագրեր:
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction > Data processing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing > Data processing.
Computer-aided design.
Digital integrated circuits > Testing > Data processing.
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Համակարգը սպասարկվում է

Մեր գրադարանի կառավարման համակարգը ներկայումս գտնվում է սպասարկման փուլում:

Պահումների և նյութերի առկայության մասին տեղեկատվությունը ներկայումս անհասանելի է: Խնդրում ենք ընդունել մեր ներողամտությունը պատճառած անհարմարության համար և կապվեք մեզ հետ հետագա օգնության համար.

david@pintaran.my

Նմանատիպ նյութեր