High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

High-level test synthesis of digital VLSI circuits /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Lee, Mike Tien - Chien (Auteur)
Formaat: Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Boston Artech House c1997
Reeks:The Artech House solid-state technology library
Onderwerpen:
Integrated circuits > Very large scale integration > Design and construction > Data processing.
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing > Data processing.
Computer-aided design.
Digital integrated circuits > Testing > Data processing.
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Het systeem is offline vanwege onderhoudswerken

Ons bibliotheek beheerssysteem is momenteel in onderhoud.

Reserveringen en beschikbaarheid van items momenteel niet beschikbaar. Met onze excuses. Contacteer ons voor hulp:

david@pintaran.my

Gelijkaardige items