Invariants for pattern recognition and classification /
Wedi'i Gadw mewn:
| Awduron Eraill: | |
|---|---|
| Fformat: | Llyfr |
| Iaith: | English |
| Cyhoeddwyd: |
Singapore
World Scientific
2000
|
| Cyfres: | Series in machine perception and artificial intelligence
vol. 42 |
| Pynciau: | |
| Mynediad Ar-lein: | Click here to view the full text content |
| Tagiau: |
Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
|
Search Result 1
