Invariants for pattern recognition and classification /
Tallennettuna:
Muut tekijät: | |
---|---|
Aineistotyyppi: | Kirja |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
Singapore
World Scientific
2000
|
Sarja: | Series in machine perception and artificial intelligence
vol. 42 |
Aiheet: | |
Linkit: | Click here to view the full text content |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Search Result 1