Advanced mathematical & computational tools in metrology & testing VIII

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor corporatiu: AMCTM VIII Paris, France
Altres autors: Pavese, F.
Format: Actes de congresos Llibre
Idioma:English
Publicat: Singapore World Scientific 2009
Col·lecció:Series on advances in mathematics for applied sciences v. 78
Matèries:
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!

Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf

Detall dels fons de Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
Signatura: QA465 A42 2009
Còpia Unknown Disponible  Fer una reserva