Advanced mathematical & computational tools in metrology & testing VIII

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Coauteur: AMCTM VIII Paris, France
Andere auteurs: Pavese, F.
Formaat: Conferentie akten Boek
Taal:English
Gepubliceerd in: Singapore World Scientific 2009
Reeks:Series on advances in mathematics for applied sciences v. 78
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!