Data modeling for metrology and testing in measurement science

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Pavese, Franco, Forbes, Alistair B.
Μορφή: Βιβλίο
Έκδοση: Boston, MA Birkhauser 2009
Σειρά:Modeling and simulation in science, engineering and technology
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!