Data modeling for metrology and testing in measurement science

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Autres auteurs: Pavese, Franco, Forbes, Alistair B.
Format: Livre
Publié: Boston, MA Birkhauser 2009
Collection:Modeling and simulation in science, engineering and technology
Sujets:
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!