Data modeling for metrology and testing in measurement science

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Daljnji autori: Pavese, Franco, Forbes, Alistair B.
Format: Knjiga
Izdano: Boston, MA Birkhauser 2009
Serija:Modeling and simulation in science, engineering and technology
Teme:
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!