Data modeling for metrology and testing in measurement science

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Pavese, Franco, Forbes, Alistair B.
Format: Książka
Wydane: Boston, MA Birkhauser 2009
Seria:Modeling and simulation in science, engineering and technology
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!