Data modeling for metrology and testing in measurement science

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji: Pavese, Franco, Forbes, Alistair B.
Format: Knjiga
Izdano: Boston, MA Birkhauser 2009
Serija:Modeling and simulation in science, engineering and technology
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!
Search Result 1
Izdano 2009
Knjiga
Search Result 2
Izdano 2009
Knjiga
Search Result 3
Izdano 2009
Knjiga