Data modeling for metrology and testing in measurement science

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Pavese, Franco, Forbes, Alistair B.
التنسيق: كتاب
منشور في: Boston, MA Birkhauser 2009
سلاسل:Modeling and simulation in science, engineering and technology
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf

تفاصيل المقتنيات من Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
رقم الطلب: QA465 D37 2009
النسخة Unknown متاح  أحجز النسخة