Data modeling for metrology and testing in measurement science

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Další autoři: Pavese, Franco, Forbes, Alistair B.
Médium: Kniha
Vydáno: Boston, MA Birkhauser 2009
Edice:Modeling and simulation in science, engineering and technology
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf

Informace o exemplářích z: Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
Signatura: QA465 D37 2009
Jednotka Unknown Dostupné  Požadavek