Data modeling for metrology and testing in measurement science

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Drugi avtorji: Pavese, Franco, Forbes, Alistair B.
Format: Knjiga
Izdano: Boston, MA Birkhauser 2009
Serija:Modeling and simulation in science, engineering and technology
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!

Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf

Podrobnosti zaloge Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
Signatura: QA465 D37 2009
Kopija Unknown Prosto  Rezerviraj