Testing and testable design of high-density random-access memories
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Format: | Buch |
Veröffentlicht: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
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Schriftenreihe: | Frontiers in electronic testing
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Beschreibung: | xxxviii, 386 p. ill. 24 cm |
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ISBN: | 0792397827 |