Testing and testable design of high-density random-access memories
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| 格式: | 图书 |
| 出版: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
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| 丛编: | Frontiers in electronic testing
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| 实物描述: | xxxviii, 386 p. ill. 24 cm |
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| ISBN: | 0792397827 |