Testing and testable design of high-density random-access memories

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Mazumder, Pinaki
Drugi avtorji: Chakraborty, Kanad
Format: Knjiga
Izdano: Boston, MA Kluwer Academic Pub. 1996
Serija:Frontiers in electronic testing
Teme:
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!
LEADER 00860pam a2200217 4500
001 0000007806
008 050719s1996 eng
020 |a 0792397827 
050 0 0 |a TK7895.M4  |b M38 1996 
090 0 0 |a TK7895.M4  |b .M39 1996 
100 1 |a Mazumder, Pinaki  |9 10808 
245 1 0 |a Testing and testable design of high-density random-access memories  |c  /Pinaki Mazumder, Kanad Chakraborty 
260 |a Boston, MA  |b Kluwer Academic Pub.  |c 1996 
300 |a xxxviii, 386 p.  |b ill.  |c 24 cm 
440 0 |a Frontiers in electronic testing  |9 12337 
650 0 |a Random access memory  |x Testing  |9 12412 
700 1 |a Chakraborty, Kanad  |9 12413 
998 0 0 |a snr/030402 
999 |c 7813  |d 7813 
997 |a FTK 
952 |0 0  |1 0  |2 lcc  |4 0  |7 0  |9 9523  |a PLHKI  |b PLHKI  |c Open Shelf  |d 2019-02-26  |e YPJP  |g 371.28  |l 1  |o TK7895 M4 M39 1996  |p 0000005878  |r 2005-10-28  |s 2005-10-28  |w 2019-02-26  |y BOK - OS