Testing and testable design of high-density random-access memories

Testing and testable design of high-density random-access memories

অন্যান্য সংস্করণ প্রদর্শন করুন (3)
সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Mazumder, Pinaki
অন্যান্য লেখক: Chakraborty, Kanad
বিন্যাস: গ্রন্থ
প্রকাশিত: Boston, MA Kluwer Academic Pub. 1996
মালা:Frontiers in electronic testing
বিষয়গুলি:
Random access memory > Testing
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!

অনুরূপ উপাদানগুলি

অনুরূপ উপাদানগুলি