Testing and testable design of high-density random-access memories
Tallennettuna:
Päätekijä: | Mazumder, Pinaki |
---|---|
Muut tekijät: | Chakraborty, Kanad |
Aineistotyyppi: | Kirja |
Julkaistu: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Sarja: | Frontiers in electronic testing
|
Aiheet: | |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Samankaltaisia teoksia
-
Testing and testable design of high-density random-access memories
Tekijä: Mazumder, Pinaki
Julkaistu: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
Tekijä: Mazumder, Pinaki
Julkaistu: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
Tekijä: Mazumder, Pinaki
Julkaistu: (1996) -
Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies /
Julkaistu: (2010) -
Fabrication and characterization of engineered tunnel barrier for nonvolatile memory application /
Tekijä: Zarimawaty Zailan
Julkaistu: (2012)