Testing and testable design of high-density random-access memories
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | Mazumder, Pinaki |
---|---|
Այլ հեղինակներ: | Chakraborty, Kanad |
Ձևաչափ: | Գիրք |
Հրապարակվել է: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Շարք: | Frontiers in electronic testing
|
Խորագրեր: | |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Testing and testable design of high-density random-access memories
: Mazumder, Pinaki
Հրապարակվել է: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
: Mazumder, Pinaki
Հրապարակվել է: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
: Mazumder, Pinaki
Հրապարակվել է: (1996) -
Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies /
Հրապարակվել է: (2010) -
Fabrication and characterization of engineered tunnel barrier for nonvolatile memory application /
: Zarimawaty Zailan
Հրապարակվել է: (2012)