Testing and testable design of high-density random-access memories
Bewaard in:
Hoofdauteur: | Mazumder, Pinaki |
---|---|
Andere auteurs: | Chakraborty, Kanad |
Formaat: | Boek |
Gepubliceerd in: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Reeks: | Frontiers in electronic testing
|
Onderwerpen: | |
Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Gelijkaardige items
-
Testing and testable design of high-density random-access memories
door: Mazumder, Pinaki
Gepubliceerd in: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
door: Mazumder, Pinaki
Gepubliceerd in: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
door: Mazumder, Pinaki
Gepubliceerd in: (1996) -
Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies /
Gepubliceerd in: (2010) -
Fabrication and characterization of engineered tunnel barrier for nonvolatile memory application /
door: Zarimawaty Zailan
Gepubliceerd in: (2012)