Testing and testable design of high-density random-access memories
Сохранить в:
Главный автор: | Mazumder, Pinaki |
---|---|
Другие авторы: | Chakraborty, Kanad |
Формат: | |
Опубликовано: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Серии: | Frontiers in electronic testing
|
Предметы: | |
Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Схожие документы
-
Testing and testable design of high-density random-access memories
по: Mazumder, Pinaki
Опубликовано: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
по: Mazumder, Pinaki
Опубликовано: (1996) -
Testing and testable design of high-density random-access memories /
по: Mazumder, Pinaki
Опубликовано: (1996) -
Advanced test methods for SRAMs : effective solutions for dynamic fault detection in nanoscaled technologies /
Опубликовано: (2010) -
Fabrication and characterization of engineered tunnel barrier for nonvolatile memory application /
по: Zarimawaty Zailan
Опубликовано: (2012)