Testing and testable design of high-density random-access memories
Wedi'i Gadw mewn:
Prif Awdur: | |
---|---|
Awduron Eraill: | |
Fformat: | Llyfr |
Cyhoeddwyd: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Cyfres: | Frontiers in electronic testing
|
Pynciau: | |
Tagiau: |
Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
|
Byddwch y cyntaf i adael sylw!