Testing and testable design of high-density random-access memories
Збережено в:
Автор: | |
---|---|
Інші автори: | |
Формат: | Книга |
Опубліковано: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
Серія: | Frontiers in electronic testing
|
Предмети: | |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Будьте першим, хто залишить коментар!