Testing and testable design of high-density random-access memories
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Buch |
| Veröffentlicht: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
| Schriftenreihe: | Frontiers in electronic testing
|
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
| Signatur: |
TK7895 M4 M39 1996 |
|---|---|
| Exemplar Unknown | Verfügbar Bestellen |