Testing and testable design of high-density random-access memories

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Mazumder, Pinaki
Otros Autores: Chakraborty, Kanad
Formato: Libro
Publicado: Boston, MA Kluwer Academic Pub. 1996
Colección:Frontiers in electronic testing
Materias:
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Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf

Detalle de Existencias desde Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
Número de Clasificación: TK7895 M4 M39 1996
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