Testing and testable design of high-density random-access memories
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| Auteur principal: | |
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| Autres auteurs: | |
| Format: | Livre |
| Publié: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
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| Collection: | Frontiers in electronic testing
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| Sujets: | |
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Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
| Cote: |
TK7895 M4 M39 1996 |
|---|---|
| Exemplaire Unknown | Disponible Réserver |