Testing and testable design of high-density random-access memories
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | |
| פורמט: | ספר |
| יצא לאור: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
| סדרה: | Frontiers in electronic testing
|
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
| סימן המיקום: |
TK7895 M4 M39 1996 |
|---|---|
| עותק Unknown | זמין ביצוע הזמנה |