Testing and testable design of high-density random-access memories
保存先:
| 第一著者: | |
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| その他の著者: | |
| フォーマット: | 図書 |
| 出版事項: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
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| シリーズ: | Frontiers in electronic testing
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| 主題: | |
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Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
| 請求記号: |
TK7895 M4 M39 1996 |
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| 所蔵 Unknown | 利用可 予約する |