Testing and testable design of high-density random-access memories
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| Autor principal: | |
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| Outros Autores: | |
| Formato: | Livro |
| Publicado em: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
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| Colecção: | Frontiers in electronic testing
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| Assuntos: | |
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Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
| Área/Cota: |
TK7895 M4 M39 1996 |
|---|---|
| Cód. Barras: Unknown | Disponível Localização |