Testing and testable design of high-density random-access memories
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | |
| Опубликовано: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
| Серии: | Frontiers in electronic testing
|
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
| Шифр: |
TK7895 M4 M39 1996 |
|---|---|
| Копировать Unknown | Доступно Поместить задолженность |