Testing and testable design of high-density random-access memories
Kaydedildi:
| Yazar: | |
|---|---|
| Diğer Yazarlar: | |
| Materyal Türü: | Kitap |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Boston, MA
Kluwer Academic Pub.
1996
|
| Seri Bilgileri: | Frontiers in electronic testing
|
| Konular: | |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|
Perpustakaan Laman Hikmah Kampus Induk, UTeM: Open Shelf
| Yer Numarası: |
TK7895 M4 M39 1996 |
|---|---|
| Kopya Bilgisi Unknown | Kütüphanede Rezerve |