Characterization of the time domain reflectometry (TDR) curve obtained under different types of bonding configurations on a power MOSFET /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Sin, Choon Keet (VerfasserIn)
Format:	Software E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2012.
Schlagworte:	Time-domain reflectometry. Metal oxide semiconductor field-effect transistors.
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