Design and analysis of electrical testing probe for semiconductor integrated circuit

Design and analysis of electrical testing probe for semiconductor integrated circuit

Zobrazit další vydání (1)
Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Wong, Michael Loke Peng (Autor)
Korporativní autor: Universiti Teknikal Malaysia Melaka. Faculty of Manufacturing Engineering (institution)
Médium: Diplomová práce Kniha
Jazyk:English
Vydáno: 2016
Témata:
Electric apparatus and appliances > Maintenance and repair.
Probes (Electronic instruments).
Semiconductors.
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Podobné jednotky

Podobné jednotky