Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis /

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Nelson, Wayne B. (Author)
বিন্যাস: গ্রন্থ
ভাষা:English
প্রকাশিত: Hoboken, NJ : John Wiley, 2004.
সংস্করন:2nd ed.
মালা:Wiley series in probability and statistics
বিষয়গুলি:
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!

পদ্ধতিটি রক্ষণাবেক্ষণের অধীনে

বর্তমানে আমাদের গ্রন্থাগার ব্যবস্থাপনা পদ্ধতিটি রক্ষণাবেক্ষণের অধীনে।

হোল্ডিংস এবং উপাদানটির প্রাপ্যতা বর্তমানে অনুপলব্ধ। আপনার সবরকম অসুবিধার জন্য আমরা দুঃখিত এবং অন্যান্য সহায়তার জন্য আমাদের সাথে যোগাযোগ করুনঃ

david@pintaran.my