Digital communications test and measurement : high-speed physical layer characterization /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Další autoři: Derickson, Dennis, Muller, Marcus
Médium: Kniha
Jazyk:English
Vydáno: Upper Saddle River, NJ : Pearson, 2008.
Edice:Prentice Hall modern semiconductor design series
Témata:
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!