Digital and analogue instrumentation testing and measurement

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Kularatna, Nihal
Ente Autore: Institution of Electrical Engineers
Natura: Libro
Lingua:English
Pubblicazione: London Institution of Electrical Engineers 2003
Serie:IEE electrical measurement series 11
Soggetti:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
LEADER 01065pam a2200241 4500
001 0000032569
008 080306s2003 xxk eng
010 |a 2006284184 
020 |a 0852969996 
050 0 0 |a TK7878.4  |b .K795 2003 
090 0 0 |a TK7878.4  |b .K84 2003 
100 1 |a Kularatna, Nihal  |9 11950 
245 1 0 |a Digital and analogue instrumentation  |b testing and measurement  |c  /Nihal Kularatna 
260 |a London  |b Institution of Electrical Engineers  |c 2003 
300 |a xxix, 645 p.  |b ill.  |c 24 cm 
440 0 |a IEE electrical measurement series  |v 11  |9 16754 
650 0 |a Electronic instruments  |x Testing  |9 16755 
710 1 2 |a Institution of Electrical Engineers  |9 11896 
998 0 0 |a mer/060308 
999 |c 32514  |d 32514 
997 |a FTK 
952 |0 0  |1 0  |2 lcc  |4 0  |7 0  |9 50024  |a PLHKI  |b PLHKI  |c Open Shelf  |d 2019-02-26  |e INTB  |g 438.43  |l 4  |o TK7878 4 K84 2003  |p 0000042516  |r 2010-10-22  |s 2010-10-22  |w 2019-02-26  |y BOK - OS 
952 |0 0  |1 0  |2 lcc  |4 0  |7 0  |9 50025  |a PLHKI  |b PLHKI  |c Open Shelf  |d 2019-02-26  |e YUHA  |g 396.65  |l 2  |o TK7878 4 K84 2003  |p 0000052647  |r 2010-10-25  |s 2010-10-25  |w 2019-02-26  |y BOK - OS