Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices
Збережено в:
Інші автори: | Schrimpf, R. D., Fleetwood, D. M. |
---|---|
Формат: | Книга |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Singapore
World Scientific Pub.
2004
|
Серія: | Selected topics in electronics and systems
v. 34 |
Предмети: | |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Схожі ресурси
-
Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices
Опубліковано: (2004) -
Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
за авторством: Ibe, Eishi H.
Опубліковано: (2015) -
Radiation effects on embedded systems
Опубліковано: (2007) -
Radiation effects on embedded systems
Опубліковано: (2007) -
Architecture design for soft errors
за авторством: Mukherjee, Shubu
Опубліковано: (2008)