Data modeling for metrology and testing in measurement science

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Outros autores: Pavese, Franco, Forbes, Alistair B.
Formato: Libro
Publicado: Boston, MA Birkhauser 2009
Subjects:
Tags: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!

Sistema en mantemento

O noso Sistema de Biblioteca atópase en mantemento

Neste momento non hai información de existencias e dispoñibilidade de copias. Por favor acepte as nosas desculpas polos inconvenientes causados, contacte connosco para unha maior información

david@pintaran.my